簡(jiǎn)要描述:高溫絕緣材料電阻率測(cè)試儀可以直接測(cè)量高溫、真空、氣氛條件下樣品的電阻和體電阻率、漏電流等隨溫度、時(shí)間變化的曲線,該系統(tǒng)已經(jīng)在航天航空傳感器領(lǐng)域得到很好的應(yīng)用,是目前國(guó)內(nèi)外絕緣材料高溫電阻率測(cè)量*系統(tǒng),廣發(fā)應(yīng)用于高??蒲性核推髽I(yè)單位材料的高溫絕緣性能研究。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | AIRTIMES/中航時(shí)代 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,航天 |
ATI-1000I高溫絕緣材料電阻率測(cè)試儀/GB-T10581-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率主要用于評(píng)估測(cè)量絕緣材料電學(xué)性能,該系統(tǒng)采用三環(huán)電極法設(shè)計(jì)原理并結(jié)合GB-T 10581-2006 絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開發(fā),可以直接測(cè)量高溫、真空、氣氛條件下樣品的電阻和體電阻率、漏電流等隨溫度、時(shí)間變化的曲線,高溫絕緣材料電阻率測(cè)試儀系統(tǒng)已經(jīng)在航天航空傳感器領(lǐng)域得到很好的應(yīng)用,是目前國(guó)內(nèi)外絕緣材料高溫電阻率測(cè)量*系統(tǒng),廣發(fā)應(yīng)用于高校科研院所和企業(yè)單位材料的高溫絕緣性能研究。
技術(shù)參數(shù):
溫度范圍:RT-1000℃
升溫斜率:0-10℃/min (典型值:3℃/min)
控溫精度:±0.5℃
電阻測(cè)量范圍:100Ω~1PΩ
電阻率測(cè)量范圍:1000~10PΩ .cm
泄露電流:<0.5pA
測(cè)量環(huán)境:惰性氣氛、還原氣氛、真空氣氛
測(cè)試通道:?jiǎn)瓮ǖ?/span>
樣品尺寸:φ<25mm ,d<4mm
測(cè)量方法:三環(huán)電極法
電極材料:上電極半圓型鉑金電極,下電極平板型鉑金電極
絕緣材料:99氧化鋁陶瓷
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)格式:TXT文本格式
符合標(biāo)準(zhǔn):GB-T 10581-2006
供電:220V±10%,50Hz
工作溫度:5℃ 至 + 40 ℃;
存儲(chǔ)溫度:–40 ℃ 至 +65 ℃
工作濕度:+40 ℃ 時(shí),相對(duì)濕度高達(dá) 95%(無冷凝)
設(shè)備尺寸:400x450x580mm
重量:38kg
特點(diǎn):
■ 工業(yè)化外觀設(shè)計(jì)和集成一體化的儀器設(shè)計(jì),讓您賞心悅目的同時(shí)出色的完成測(cè)試服務(wù);
■ 高溫爐膛、測(cè)量夾具、測(cè)量軟件等集成于一體,讓您的測(cè)試變得簡(jiǎn)單,毫無后顧之憂;
■ 電動(dòng)升降平臺(tái),一鍵控制爐膛升降,操作更加輕松、快捷、穩(wěn)定、可靠;
■ 觸摸屏控制和顯示,同時(shí)支持USB外接鍵盤、鼠標(biāo),具有的易用性;
■ 爐膛口朝上設(shè)計(jì),能很好解決溫度對(duì)夾具的影響,穩(wěn)定性更高 ;
■ zui高測(cè)量溫度可以到達(dá)1000℃高溫;其它溫度可定制;
■ 內(nèi)膽采用進(jìn)口金屬材料,耐高溫、抗氧化,可實(shí)現(xiàn)多種環(huán)境下的電學(xué)測(cè)量;
■ 金屬屏蔽罩設(shè)計(jì), 避免交流干擾,提高測(cè)量精度;
■ 采用三段PID精確控溫,實(shí)現(xiàn)不同溫度區(qū)間的精確控溫,控溫精度達(dá)到±0.5℃;
■ 輕松實(shí)現(xiàn)常溫、高溫、真空、流動(dòng)氣氛等多種試驗(yàn)環(huán)境,讓您容易應(yīng)對(duì)更加復(fù)雜的挑戰(zhàn);
■ 彈簧夾具設(shè)計(jì),彈簧的可壓縮性既不損傷樣品又能實(shí)現(xiàn)更好的接觸;
■ 半球狀+平板狀電極設(shè)計(jì),精確定位測(cè)量某一點(diǎn),實(shí)現(xiàn)更好的測(cè)量重復(fù)性和穩(wěn)定性;
■ 單樣品塊體測(cè)量夾具,針對(duì)圓片、方塊、長(zhǎng)條等樣品進(jìn)行測(cè)試;
■ 系統(tǒng)自帶溫度校準(zhǔn)功能,讓測(cè)量溫度盡可能與樣品實(shí)際溫度保持*;
■ 可以自動(dòng)調(diào)節(jié)施加在樣品的測(cè)試電壓,以防樣品擊穿;
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