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體積表面電阻率測(cè)試儀(高阻計(jì))應(yīng)用過(guò)程需注意的細(xì)節(jié)

更新時(shí)間:2025-03-25      點(diǎn)擊次數(shù):78

體積表面電阻率測(cè)試儀用于測(cè)定材料的絕緣特性,其應(yīng)用過(guò)程需嚴(yán)格遵循IEC 60093或ASTM D257標(biāo)準(zhǔn)。測(cè)試前制備厚度均勻(誤差≤±3%)的方形或圓形樣品,表面經(jīng)異丙醇清潔并烘干2小時(shí)以上,消除靜電干擾。采用三電極系統(tǒng)時(shí),主電極與保護(hù)環(huán)間距控制在2mm以內(nèi),確保表面電阻測(cè)量時(shí)電場(chǎng)分布均勻。測(cè)試體積電阻率時(shí),需使用上下對(duì)稱電極,避免邊緣漏電流。

操作時(shí),將樣品置于屏蔽箱內(nèi),測(cè)試電壓選擇100V-1000V(根據(jù)材料類型調(diào)整),穩(wěn)定30秒后讀取電流值。高阻計(jì)自動(dòng)計(jì)算電阻率,表面電阻率測(cè)量需保持電極接觸壓力0.2-0.5N/cm2。環(huán)境控制為25±1℃、濕度50±5%RH,必要時(shí)通過(guò)氮?dú)庵脫Q降低環(huán)境電離影響。針對(duì)薄膜材料,采用滾輪電極消除接觸電阻;對(duì)復(fù)合材料需多點(diǎn)測(cè)量取幾何平均值。測(cè)試后需放電15秒以上,防止殘余電荷損傷儀器。應(yīng)用領(lǐng)域涵蓋半導(dǎo)體封裝材料驗(yàn)證、電纜絕緣層質(zhì)檢、防靜電地板認(rèn)證等,特別適用于納米涂層導(dǎo)電性能的量化評(píng)估。報(bào)告需明確區(qū)分體積/表面電阻率,并注明測(cè)試電壓與電極配置參數(shù)。



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